極速報價供貨工業品baumer BDK16.24K50-5-5
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這些技術不斷發展，進一步增加了汽車開發過程的復雜性。例如，目前有兩種針對V2X的競爭標準 aka DSRC和LTE V2X。為了保持競爭力，汽車制造商必須準備好將兩種標準集成在一起，這意味著驗證測試必須能夠輕松修改為新標準，而無需花費量成本或對系統進行返工。此外，多個競爭標準并不是的問題。各國政府正試圖定管理自動駕駛汽車的方法，許多法規仍在制定中。隨著新技術和標準的不斷出現，為了避免落后于快速創新的步伐，具有互操作性、廣泛I/O和同步性的開放式測試平臺對于滿足未來的驗證測試需求至關重要。
現今狀況
這些趨勢使得汽車開發過程各個階段都面臨著新的挑戰，包括供應鏈。類似的主題一次又一次地出現，但表現方式卻各不相同。采用新設計且快速發展的組件和系統正在不斷增加系統復雜性。同時，不斷變化的法規要求來量的測試，而且需要提供準且可溯源的結果。不斷加快的創新速度往往令組織措手不及，無法對預算和測試方法進行及時調整;這迫使測試部門不得不想辦法少花錢多辦事。
測試經理面臨著多個方面的挑戰，不僅需要在不斷縮減的時間期限內構建日益復雜的混合測量測試系統，而且還需要管理爆炸式增長的采集數據。而且不只是汽車行業，這些挑戰也滲透到重型設備、航空航天、工業設備和院校科研等鄰近行業。為了克服這些挑戰，工程師需要特定應用的工具來優化測試工作流程，而且還需要擴展性來適應不同的需求。例如，NI軟件定義的開放式平臺可允許工程師選擇自己喜歡的工具并充分利用其業知識，從而靈活地滿足不斷變化的需求。 FlexLogger™軟件是NI新的基于配置的數據記錄工具，可幫助更多的工程師和技術人員構建準、靈活的測試系統，以驗證新的和快速發展的技術 - 所有這些都無需編程。自動駕駛汽車已經成為一個熱門話題，但即使看似簡單的部件(如前燈或汽車座椅)也變成了日益復雜的機電系統，將ECU、傳感器、驅動器和通信結合到汽車的其余部分。為了滿足保安全性所需的質量和可靠性，工程師必須了解這些系統中電氣和機械組件與工業I/O和通信機制之間的相互依賴性。
FlexLogger提供了針對特定傳感器的工作流程，可簡化測試配置，工程師只需進行簡單的培訓即可開始采集和記錄同步的混合測量數據。您可以快速集成模擬傳感器、數字脈沖頻率、CAN信號和計算通道，這些數據都記錄為通用TDMS文件格式，以便對其進行關聯和分析，從而準分析整個系統的特性。這樣可以避免量的數據后期處理，對不同來源的時間戳數據進行分類和分析，加快獲取信息的速度。
隨著測試量的增加，記錄的數據量也在飛速增長，在沒有有效的數據管理策略的情況下，找到特定的測試結果變得來具有挑戰性。不詳細的文檔說明是重復測試的主要原因，采集的數據中只有5%實際進行了分析。基于NI在數據管理方面的業知識，FlexLogger可通過自動捕獲記錄完整的數據來幫助提高可追溯性，并提供有關測試配置的描述性元數據，包括傳感器和硬件采集設置。測試部門可以使用NI客戶和服務器數據管理軟件進一步優化數據訪問并整合整個測試組織的資料，以便查找、分析和報告量數據。
汽車行業的創新并沒有放緩的跡象。 NI一直是OEM和供應商值得信賴的合作伙伴，提供靈活且面向未來的測試系統，具有廣泛的I/O、系統同步以及龐的合作伙伴生態系統。 FlexLogger是可互操作的工作流程的一部分，旨在服務整個產品設計周期，以幫助汽車測試部門降低成本，縮短部署時間并限度地提高測試覆蓋率。金屬增材制造設備中的SPI激光器需要格外留意周圍環境的溫濕度變化。當激光器冷卻水溫度低于室內環境溫度，或者空氣相對濕度變時，均會產生結露現象。
設備要求
雷尼紹金屬增材制造(3D打印)設備的工作溫度要求在18-22℃之間，相對濕度小于60%，水冷機的設置溫度為20℃。
房間內溫度和濕度必須保持在結露點溫度之上，同時不能超過水冷機的設置溫度，以免在冷卻到20°C的激光組件上形成冷凝。
舉例說明
以環境溫度20℃為例，要保激光器冷卻水溫度的設定高于表1中當前環境濕度對應的露點溫度，濕度60%時，溫度高于12.0℃(濕度95%時，溫度高于19.2℃)，那么水冷機的溫度在20℃則不可能結露。
以環境溫度30℃為例，要保激光器冷卻水溫度的設定高于表1中當前環境濕度對應的露點溫度，濕度60% 時，溫度高于21.4℃(濕度95%時，溫度高于29.1℃)，那么水冷機的溫度在20℃則一定會結露。
表1 結露點分布
解決方案
表2結露點的預防
根據表1中的顏色區域可在表2中查看對應的預防措施。當設備出現結露的情況，應及時停止打印工作(必要時需關閉電源)，調整房間直至溫濕度達到正常范圍內。如果房間內的溫濕度短期無法達到要求，請先關閉所有設備電源，并將水冷機和水管中的冷卻水全部清空排出。一直以來,許多技術先的廠商都致力于開發高度集成的雷達視覺技術，實現且不受環境噪音影響的效果。一架巨的飛機在屏幕上只能呈現為一個點，那已經是過去的老舊雷達屏幕了。現如今，采用TI*毫米波技術的毫米波傳感器，可以幫助我們看到具有詳細輪廓的物體并對其進行分類，實現“眼見為實”。
想象一下，一個靈敏的機器即使在充滿灰塵、黑暗、霧氣或下雨等惡劣條件下也能避開障礙;一個安全系統，可以透過墻壁看到入侵者;一架無人機可以檢測到肉眼看不到的高架電纜;一個安裝在手術工具尖的微型雷達可以檢測到生物質;又或者一個微型傳感器可以監測動脈壁和聲帶運動。
這種機器視覺依賴于復雜的互補計算方式，在汽車、工廠自動化、樓宇自動化和醫療等域的應用中，通常被用于形成精的物體圖像。主動傳感器是傳輸一個或多個波流，并智能地將反射轉換成圖像。(閱讀我們的了解更多關于TI毫米波雷達技術，《毫米波雷達在邊緣地帶實現更高的智能自主性》。)
革新者
當然，無線電探測和測距(雷達)并不是新的技術。每一次駕駛員自主進行操作和每一次自主巡航控制的飛行任務都需要雷達系統的參與。這一概念誕生于第二次戰期間，從那以后被廣泛使用。這一概念不僅僅在軍事用途方面起到了開創性的作用，對其它域的應用也有巨貢獻。諸如空中和地面交通控制、地面和地下測繪、天氣預報、汽車高駕駛員輔助系統(ADAS)以及醫療監控等應用都在配置電磁(EM)測距。
雖然諸如超聲波測距和成像等低頻率的技術已經普遍應用，并且成本可被接受，但它限于短距離范圍內。而雷達擁有廣泛的工作頻率范圍，從300 MHz到300 GHz，包括78-81 GHz廣泛用于汽車應用，60 GHz用于工業應用。在低頻時，電磁傳播衰減較小。低頻雷達可以覆蓋很長的距離，但需要型天線或多個天線才能彌補有限的精度和角度分辨率。頻率高，衰減，但分辨率和精度同樣與之增長。而且，在更高的頻率下，無線電、基帶和天線的集成更加實用。在超高頻率下，光學傳感器的分辨率是無法被比擬的，然而在超高頻率下光學傳感器存在被周圍的障礙物模糊的可能性。
然而直到近，由于成本、技術復雜性和精性等原因，雷達在許多汽車和工業應用中無法廣泛使用。但是德州儀器的CMOS芯片上的單片式毫米波感測解決方案可以改變這一挑戰。
使用方便
曾經，部署雷達需要量的射頻(RF)設計和業知識。將天線、射頻、模擬、數字處理器和適當的接口等準地進行集成，需要昂貴和繁瑣的設計。
但是現在，我們的集成雷達芯片帶來了許多創新性的即插即用解決方案。除了標準的汽車應用之外，許多工業和商業應用也可以從簡單易用的TI毫米波傳感器中獲益。集成DSP和微控制器的效率和便利性將提供多種用途。它可以通過實時監控糾正前異常情況來提高整體性能。此外，它還門提供一個芯片上的平臺用于本地應用程序和數據分析。
例如，無人機上的嵌入式毫米波傳感器可以檢測農業土壤和作物的品質。工業化學品儲罐內的傳感器可以檢測液位和蒸汽密度。帶有集成分析引擎的傳感器可以檢測、統計和分析人員的移動。一個微小的傳感器可以監測病人的心跳和呼吸模式。貼片中的一系列TI 毫米波傳感器可以在瞬間就監測到核心體溫和動脈壁的狀況。在一些應用中，集成設備甚至可以替代超聲波傳感器，同時在汽車保險杠上提供更多功能。
可擴展性
雷達技術已經在很多方面施展作用。遠程窄射線雷達需要不同的天線配置和更高的功率。例如，中、遠距離范圍內高駕駛員輔助系統(ADAS)雷達能夠以毫米的精度探測遠至250米處的物體。具有較寬波束的短程TI毫米波傳感器用于近距離檢測，例如檢測汽車附近的物體或工業應用中的液位檢測。
雷達系統根據范圍(距離)，頻率(速度)和角度(角度分辨率)在三維空間中檢測物體。雷達的角分辨率取決于天線的孔徑。在模塊上使用多個天線可以提供更高的角度分辨率。發射功率、信號波形、天線數目和處理能力的可擴展性使得TI毫米波傳感器可以被廣泛地應用。
由集成的強處理器運行的邊緣信號處理可以為邊緣處的模式識別和人工智能算法提供數據分析。邊緣處理技術可以使機械手臂在本地處理傳感器; LIDAR技術、雷達圖像定位處理、 以及能夠檢測工業罐中危險因素的TI毫米波光譜傳感器也都是邊緣處理的例子NI于2014年推出的NI STS，基于實驗室儀表別精度的模塊化儀器，同時滿足測試精度和量產測試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺，因此，NI STS可以不斷擴展以滿足日益增多以及定制化的測試需求。
圖1. NI 半導體測試系統內部架構
NI STS 具有統一的測試平臺—— PXI 平臺，可根據設計檢驗到生產測試而隨時調整、讓設計與測試部門輕松共用資料，進而降低成本。此外，PXI 平臺開放式與模塊化的設計，使您可以獲得更強的計算能力及更豐富的儀器資源，進一步提升半導體測試效率。
NI不斷在PXI平臺上提供尖的儀器技術來滿足半導體產業的測試任務。在這樣的平臺下，在實驗室和產線中內部構造基本一致。在實驗室中使用到的高性能的儀器在產線中依然可以使用，并加入如分選機(Handler)/探針(Prober)的集成、標準Docking(包括Soft Dock/Hard Dock)、待測彈簧探針連接、STDF數據報表生成和系統校準等特性，可輕松集成到生產測試滿足半導體產線測試的要求。
同樣在實驗室和量產測試使用統一開發環境LabVIEW和測試管理執行軟件TestStand，可化復用實驗室中的代碼，減少數據關聯(Correlation)時間，進一步提升半導體測試效率。
圖 2. FT 測試
為了幫助半導體工程師更好的使用NI STS，小編特意為家準備了STS 系列培訓教程(有詳細視頻講解哦)，今天先講從“STS Test Head”開始~
NI STS使用培訓系列目錄
① STS Test Head
NI STS 是一系列用于半導體特性分析和生產的硬件/軟件產品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。T1、T2和 T4 的主要區別在于它們的尺寸以及它們可容納的 18 插槽 NI PXI 機箱的數量(T1 - 一個 PXI 機箱;T2 - 兩個 PXI 機箱;T4 - 四個 PXI 機箱)。本節介紹了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本視頻展示了 NI STS 輸入和輸出面板及其在測試單元內集成的功能。
② STS Operator Interface
本章介紹了在STS上運行測試的流程。OI(操作員界面)由多個控件和顯示框組成，它們用于配置測試站、輸入批次信息、執行測試以及查看良率、分bin信息和測試結果。
③ Tester Admins
本章提供了創建可啟動 USB 驅動器的參考指南以及使用 Acronis Image 工具加載 STS 控制器鏡像的過程。由于 OI 是客戶高度定制的操作員界面，因此我們還介紹了如何修改工廠的默認 STS 操作員界面并滿足客戶的特定需求。
④ Handlers and Probers
STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分選機和探針測試臺。每種類型的 STS 都由標準通信接口和Docking 接口所組成。NI 已與幾乎所有在多數工廠中發現的常見Handler and Prober對接過。以下視頻介紹了分選機和探針測試臺驅動程序的配置過程，并介紹如何在操作員界面配置模擬分選機。
⑤ Tester Maintenance
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